PCTS-2000H高溫?zé)後岆姕y試系統(tǒng)采用直接測量法測量熱釋電材料在均勻升溫過程中釋放出來的熱釋電電流，計(jì)算得到本征熱釋電系數(shù)，適用于各種熱釋電薄膜、厚膜、單晶、陶瓷材料等的測試。

熱釋電系數(shù)測試主要性能指標(biāo)：

a. 測量范圍：0.1 pA ～ 1 μA

b. 測量精度：10 fA

c. 樣品類型：單晶、塊體、膜

d. 最大樣品厚度：10 mm

e. 最大樣品尺寸：Φ30 mm

f. 樣品形狀：不限

g. 溫度范圍：RT ～ 400 ℃

h. 控溫精度：±0.1 ℃

i. 升降溫速率：1～10 ℃/min

j. 具有控溫故障診斷監(jiān)控、超溫自動(dòng)斷電保護(hù)功能

本測試系統(tǒng)由主控器、高溫測試箱（配熱釋電測試夾具）、計(jì)算機(jī)及系統(tǒng)軟件部分組成。主控器實(shí)現(xiàn)收集熱釋電電流、與PC通訊等功能，系統(tǒng)軟件包括可視化數(shù)據(jù)采集和管理功能，測試時(shí)，按要求安裝樣片后，一鍵啟動(dòng)熱釋電系數(shù)測量，測量過程曲線和測試結(jié)果自動(dòng)保存。

配置的高溫測試箱，以電阻絲為加熱元件，采用T型熱電偶和可編程溫度控制器。爐膛采用全金屬爐膛，溫度可達(dá)400℃，控溫精度±0.1℃；同時(shí)設(shè)有通氣接口，可用于惰性氣體下使用。具有溫度場均衡、控溫準(zhǔn)、升降溫速率快等優(yōu)點(diǎn)。

先后有華中科技大學(xué)、四川大學(xué)、南京理工大學(xué)、上海師范大學(xué)、河北大學(xué)、湖北大學(xué)、江西科技學(xué)院等單位選購PCTS-2000H高溫?zé)後岆姕y試系統(tǒng)，已助力客戶在ACS AMI、J AM CERAM SOC、ACTA MATER等國內(nèi)外*期刊發(fā)表優(yōu)秀論文，產(chǎn)品詳細(xì)資料請咨詢我司。